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5G通讯半导体试验应用方案
编辑 :广东德瑞检测设备有限公司
时间:2021-10-21 15:01:06

1666929732590249.

 

交换类:

电话交换测试路由器、以太网交换机、HLR

传输类: SDH、WDM、MSTP、PTN、OTN、ASON 数字微波通信设备、卫星地球站传输设备

电源类: 高频开关电源、UPS、蓄电池、锂电池、高压直流 240V/336V供电系统、交/直流配电柜

移动基站类: 基站设备、直放站设备、基站控制器

接入类设备: ADSL/ADSL2+、VSAT、EPON

服务器和网关类设备: 服务器、网关、BNAS、SlP、综合接入媒体网关设备、信令网关设备通信设备及设施集装箱数据中心、lCT 机房设备等

各种电力设备、电工电子设备、核设备等

IC芯片

芯片级预处理(PC)&MSL试验、J-STD-020&JESD22-A113高温存储试验(HTSL) JESD22-A103温度循环试验(TC)JESD22- A104温湿度试验(TH/THB)JESD22-A101高温老化寿命试验(HTOLJESD22-A108

MCU(微型控制器)

使用寿命测试:JESD22-A108-A;EIAJED-4701-D101高/低温操作生命期试验预处理测试:高低温循,环烘烤等,模拟IC在使用之前在一定湿度,温度条件下存储的耐久力,也就是IC从生产到使用之间存储的可靠性高低温循环试验:评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。方法是通过循环流动的空气从高温到低温重复变化高低温冲击试验:评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率高温储存试验:测试条件150℃评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。

晶元

IEC60068-2-2 GB/T2423.2高温试验:测试产品在高温条件下的贮存、运输和工作功能完好性1EC60068-2-1 GB/T2423.1低温试验:测试产品在高温条件下的贮存、运输和工作的功能完好性1EC60068-2- 14GB/T2423.22温度循环试验:确定一次或多次温度变化对产品的影响IEC60068-2-14GB/T2423.22 EIA-364IPC-TM650温度冲击试验:考核产品的承受热冲击的能力IEC60068-2-30GB/T 2423.3GB/T2423.4湿热试验:适用于确定元件、设备或其他产品在高湿度与温度循环变化组合且通常会在试验样品表面产生凝露的条件下使用、运输和贮存的适应性。

二极管

IEC60068-2-67标准,模块样品在规定的温度85°C、相对湿度85%的条件下测试1000小时(双85试验) GB/T 2423.1-2001电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温GB/T 2423.2-2001电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温GB/T 2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.18-2000电工电子产品环境试验第二部分:试验--试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.21-1991电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB/T 2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T2423.25-1992电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验GB/T2423.26-1992电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验GB/T2423.26-1992电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验GB/T2423.27-1981电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB/T 2423.34-1986电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法。

模组

符合GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20试验标准,电池性能测试、环境适应性及可靠性试验、安全测试等,高温性能测试、恒定温湿测试、热冲击测试、低压测试等环境可靠性试验部分。

电芯

符合GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20试验标准,电池性能测试、环境适应性及可靠性试验、安全测试等,高温性能测试、恒定温湿测试、热冲击测试、低压测试等环境可靠性试验部分。

光伏板

外壳防护、低温、高温、冲击、振动、湿热、防腐蚀等,硅片老化测试、温湿贮存,温度85°C、湿度85%湿热贮存1000h后组件功率衰减测试。

核电

高低温、冷热冲击、湿热交变、温度循环等,核电配套设备及电子元器件外部应力,如环境温度辐射振动冲击,或其他机械和化学应力都会加速元器件的老化。高温以及温度循环也是电子元器件和电子设备老化的主要原因。

可跟据不同试验需求选购不同品类的环境试验箱


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