5G通信与半导体环境试验箱 — 高低温·湿热·老化测试方案
适用产品
APPLICABLE PRODUCTS5G 通讯半导体 — HAST 非饱和高压加速老化试验机
以 110~130℃、65~85%RH 的非饱和蒸汽叠加偏压，按 JESD22-A110／JESD22-A101 思路加速暴露芯片与封装体的吸湿分层、金属化腐蚀与离子迁移，96~264 小时即可等效常温双 85 的数千小时，是器件级湿热可靠性的快速筛选手段。
了解更多 ›
5G 通讯半导体 — 大型冷热冲击试验箱
两温区大容积切换，在 -65~150℃ 区间执行器件与整机级的温度循环（JESD22-A104 与GB/T 2423.22），考核焊点热疲劳、引线键合与基板 CTE 失配开裂，1000L 级内腔可一次装载多批次样品或整块通信板卡。
了解更多 ›
5G 通讯半导体 — 高温老化测试箱
按 JESD22-A103 高温存储寿命（HTSL，150℃ 无偏压）与 JESD22-A108 高温工作寿命（HTOL，Tj 125~150℃ 加动态偏压）配置条件，配置引线馈通可带电测试，配合 168／500／1000h 读点监测退化趋势。
了解更多 ›
5G 通讯半导体 — 三层式恒温恒湿试验箱
三层独立控温控湿，专用于 85℃／85%R.H. 稳态温湿度偏压（THB，JESD22-A101）与 GB/T 2423.3 恒定湿热的批量考核，层间独立可并行不同批次或不同条件，显著提升器件可靠性筛选的吞吐。
了解更多 ›
相关产品
RELATED PRODUCTS
适用测试标准
APPLICABLE STANDARDS下列标准是本行业常见的考核依据。设备按标准规定的温区、湿度范围与温度变化速率配置，试验条件与验收方法逐项写入技术协议。
具体标准版本以贵司技术文件或认证机构要求为准；德瑞可按指定版本核定设备参数。（共 15 项）
资质与实力
QUALIFICATION设备支持第三方计量机构校准，随附完整技术资料，满足实验室资质评审与客户验厂要求。
质量管理体系认证
东莞自有生产基地
校准数据可追溯
2006 年创立
质量管理体系认证
节能专利证书
河南省计量科学研究院 出具
关键参数逐项验收
为什么选择德瑞
WHY DERUI客户怎么说
CLIENT VOICE以下为部分合作客户类型在项目对接中的反馈要点（应客户保密要求，不展示具体企业名称）。
我们的芯片按 JESD22-A104 温度循环与 85℃／85%R.H. 偏压做器件级可靠性验证，德瑞把温区、偏压方式与读点时间写进技术协议，到货逐项核对，批次一致性不错。
交换机与机柜按 GR-63-CORE 做机房高温老化与温度循环，德瑞的高温老化房温场均匀，支持整柜带电老化，标准条款解读也一并给了建议。
光模块的高低温与湿热试验用了德瑞的恒温恒湿与气流仪，夹具按模块尺寸定制，支持第三方计量校准，交付与售后响应比较快。
