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GBT 5170.2-2017 环境试验设备检验方法 第2部分:温度试验设备
编辑 :德瑞
时间:2022-11-23 08:21:35

范围

GB/T 5170 的本部分规定了温度(含低温、高温和温度变化)试验设备(以下简称“设备”)的检验项目、检验用仪器及要求,检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。本部分适用于环境试验箱对GB/T 223.1,GB/T 2423.2和GB/T 2423.22 所用设备的检验本部分也适用于类似设备的检验。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A低温GB/T 2423.2电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验 B;高温GB/T 2423.22 环境试验第2部分:试验方法试验N温度变化GB/T5170.1-2016电工电子产品环境试验设备检验方法第1部分:总则GB12348一2008 工业企业厂界环境噪声排放标准

2术语和定义

GB/T5170.1一2016 界定的术语和定义适用于本文件

快速温变试验箱检验负载

设备检验一般在空载条件下进行,如在负载条件下检验,应在检验报告中说明。设备的检验负载应满足以下条件:

负载的总质量在每立方米工作空间容积内放置不超过 80 kg;a)

b)负载的总体积不大于工作空间容积的五分之一;

在垂直于主导风向的任意截面上,负载面积之和应不大于该处工作空间截面积的三分之一,负c载放置时不可阻塞气流的流动。

检验负载的具体选择也可由双方协商解决,或按有关标准的规定

8.1.1测量点数量及位置

冷热冲击试验箱温度偏差测量点数量及位置如下

将设备空间定出上、中、下三个水平层面(简称上层、中层、下层),中层通过工作空间几何中心a)点。将一定数量的温度传感器布放在其中规定的位置上,传感器不应受冷热源的直接辐射;测量点分别位于上、中、下三层,位置如图 1所示;6

温度测量点用 A,BC、D、E、F、G、H、J、OK、L、MNU 表示:c)

d)测量点 E、O,U 分别位于上,中下层的几何中心;e测量点 A,B,C、D,K,L,M,N 与靠近的设备内的距离为各自边长的 1/10(遇有风道时,是指与送风口和回风口的距离),但最大距离不大于 500 mm,最小距离不小于 50 mm。如果设备带有样品架或样品车时,下层测量点可布放在样品架或样品车上方 10  处;0测量点 FG HJ与靠近的设备内的距离分别为各自边长的 1/10 和 1/2;g)设备容积小于或等于 2 m’时温度测量点为 A,BCDOKLMN共9个;b)设备容积大于2 m’时,温度测量点为 A,B,C、D,EFG,HJO,KLMNU共15个;当设备容积小于 0.05 m或大于 50 m时,可适当减少或增加测量点并在报告中注明j) 根据试验和检验的需要,可在设备工作空间增加对疑点的测量,温湿度试验箱采用干湿球法湿度传感器并在报告中注明。

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