温度冲击试验箱主要用于测试物品的温度变化快速升降的能力，其试验流程一般如下：

1.准备工作：将待测试物品放置于温度冲击试验箱内，并将试验箱设置为所需的温度范围和温度变化速率。

2.预热阶段：将试验箱预热到设定温度，并保持一段时间以达到稳定状态。

3.冲击测试：在设定的温度范围内进行温度冲击测试。通常情况下，温度冲击测试包括两个阶段：高温区域和低温区域。在高温区域测试期间，将试验箱温度快速升高到设定温度，然后保持一段时间以达到稳定状态。在低温区域测试期间，将试验箱温度快速降低到设定温度，然后保持一段时间以达到稳定状态。根据需要，可以进行多个冲击测试循环。

4.测试完成：测试结束后，将试验箱温度恢复到常温状态，取出测试物品并进行检查和评估。

需要注意的是，具体的冷热冲击试验箱试验流程可能因设备型号、测试标准等因素而有所差异，建议在进行试验前仔细阅读设备说明书和测试标准，按照相应的流程进行测试。

温度冲击试验箱试验标准

以下是常见的温度冲击试验标准：

GB/T 2423.22-2012《电子电工产品基本环境试验规范 第2部分：试验方法 第22节：温度冲击试验》

IEC 60068-2-14 Ed. 4.0 b:2009-09《环境试验 第2部分：试验方法 第14节：温度冲击》

MIL-STD-810G Method 503.5《高温冲击和低温冲击试验》

JIS C 60068-2-14:2009《环境试验方法 第2部分：试验方法 第14节：温度冲击试验》

ASTM D 7437-07(2013)《标准测试方法：温度冲击试验》

这些标准涵盖了温度冲击试验的各个方面，包括试验设备的规格要求、试验方法、试验参数、试验样品的准备、试验结果的判定等，具体的应用可根据测试目的和测试对象的特点进行选择。建议在进行温度冲击试验前，仔细阅读相应的标准，确保测试流程和数据的准确性。