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GB-T2423.26-2008试验Z∕BM:高温∕低气压综合试验
编辑 :德瑞
时间:2022-07-23 16:55:18

GB-T2423.26-2008试验Z∕BM:高温∕低气压综合试验.pdf

1.1 概述

GB/T2423的本部分是关于散热和非散热试验样品高温(温度断交或突变)和低气压综合试瞼,见8.2.2和8.2.8.本试验目的是确定元件、设备和其他产晶对其贮存和使用中遇到的高温-低气压综合环境的透:应性。本综合试验通常只有在试验样品进行单-环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法-次只能试验- - 个散热试验样品。

1.2 低气压

本试验程序适用于气压大于1kPa的压力试验。当气压小于或等于1kPe时,可不考璁试验程序的内容。节能型冷热冲击试验箱本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见专门标准。

1.3温度

1.3.1GB/T2423.2试验B中有关非散热试验样品试验和散热试验样品试验应用对比的指导适用于本部分。

注:非傲热试验样品的定义按GB/T 2421中相关规定,不应在低气压下洲世其最热点的篮度.

1.3.2GB/T2423.2试验B中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。

1.4 规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件;其最新版本适用于本部分。

GB/T 2421电工电子产品环境试验 第1部分a总则(GB/T 2421- -1999 ,idt IEC 60068-1 :1988)

GB/T 2423.2电工电子产 品环境试验第2部分:试验方法试验 B:高温(GB/T 2423. 2

2008 ,IEC 68-2-2:2007 ,IDT)

GB/T 2423. 21电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 M低气压(GB/T 2423. 21-

2008,IEC 68-2-13;1983 ,IDT)

环境试验箱GB/T 2423. 22电工电子产 品环境试验第2部分:试验方法试验 N;温度变化(GB/T 2423. 22-2002 ,IEC 68-2-14:1984,IDT)" 

GB/T 2424.1电工电子产 品环境试验高 温低温试验导则(GB/T 2424. 1-2005 ,IEC 60068-3-1:1974,IDT)

GB/T 2424. 15电工电子产 品基本环境试验规程温度/低 气压综合试验导则(GB/T 2424. 15-2008 ,IEC 68-3-2;1976 ,IDT)


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